铜铝共晶技术使用在母线槽上可以吗?凭什么说可以或者不可以?铜铝共晶母线槽在生产和使用过程中要注意哪些要点呢?
铜铝共晶当然可以在母线槽中使用。作为一种新型导体材料,有足够的应用积累吗?会不会在使用过程中,出现很多没有预见到的问题呢?
新材料当然做了很多的应用测试。这是浙江神马集团做的测试数据,分享给大家看看。
一、载流数据测试分析
从测试数据来看,铜铝共晶和紫铜铜排载流数据相差不大。这是很多母线槽行业的传统技术人员无法相信的。因为铜的电导率比铝高很多,怎么可能换掉这么多铜,载流还差不多呢?
原因解析——集肤效应的作用:
交流电集中于导体表面。例如10×100的铜排:
- 厚度表层上下3mm:通过了70%的交流电
- 中心点3mm:可能只通过了5%的电流
所以交流电高密度从表面通过,在共晶排上:
- 表面铜皮部分通过了最多的交流电
- 共晶排的铝部分其实只是通过了少量的交流电
- 在电流密度太大时,电流的集肤效应会减弱一点,共晶铝部分有余量承载更多的电流
实测结论:10×100的铜排,通常载流2000A。你中心挖空4mm,截面减少40%,载流差不多也是2000A。如果中心的6-8mm换铝排,效果和挖空差不太大。
补充说明:这是作者测试的结果。读者自己也得测试后才能相信,不要盲目照做。
二、关键注意事项与风险提示
即使载流很棒,你会直接用吗?聪明的你当然知道,贵有贵的道理,便宜有便宜的隐私。
问题1:铜铝分离风险
铜铝共晶用一段时间,铜铝分离了怎么办?
- 铜铝共晶结合部位(共晶部分),既不是纯铜,也不是纯铝
- 纯度为90%的铜排载流就比不上纯度95%的纯铝排
- 杂质对铝排的载流影响也是巨大的
- 如果铜铝剥离后,铝面氧化,那不就是薄薄的铜层裸奔了吗?
测试结果:这个问题已做了近一年的测试,针对不同材料,测试的结果不一样。共晶分离是比较稳定的。
问题2:电位腐蚀问题
铜铝共晶电位腐蚀能解决吗?
腐蚀的前提是要有空气、水等物质。如果共晶没有分离,不产生空隙,当然就没有电位腐蚀的前提条件。所以只要共晶工艺过关,就不会出现铜铝分离,产生腐蚀。
问题3:膨胀率差异问题
铜铝的膨胀率不一样,铜包不住铝。
- 是的。物理性能决定了铜是包不住铝的
- 共晶只是覆盖表面,并不是全包裹
- 共晶排边上是有一条缝隙的,铜皮没有完全包裹
- 所以不存在铜包裹铝的问题
问题4:应力问题(专家级别问题)
还是铜铝的膨胀率不一样,铜铝共晶面会产生应力啊。
- 看到这个问题的人真的是专家了
- 铜铝共晶的应力确实必然存在,无法消除的
- 短时间、低温差可能没法看出来;时间长了就一定会有表现
测试成果:
- 花了近一年时间测试应力问题
- 发现了一些导致故障产生的应力结构
- 只要避开这些故障结构的共晶铜排,就没有问题
⚠️ 重要警示:我测试发现的故障结构,在久卫母线技术群一百多位同行专家沟通过程中,据说多家母线槽头部企业使用了这种故障结构的共晶铜排。我认为,作为头部企业,有丰富的技术储备和解决方案,他们应该是找到了避免这些故障产生的工艺。所以,头部企业用的,千万别随便照着抄。不然就像学魔术师吞刀,他没事,你半死。
问题5:外壳刚性要求
重要提醒:如果使用共晶铜排作为导体,记得外壳要使用加厚的板材。
- 共晶铜排大多使用纯铝共晶,刚性不太好
- 主要靠外壳支撑
- 外壳刚性不够的话,一不小心就折了
- 折了,多尴尬啊,赔死吧